22 октября 2026 года, Москва

Конгресс-центр отеля “Вега Измайлово”,зал “Прогресс”

Скачать программу

09.00-09.50 Регистрация

09.50-10.00 Вступительное слово организаторов

10.00-10.30 Практика реализации нормативных требований к качеству ЭКБ

Турлаев Евгений, руководитель отдела комплексной поддержки ООО «ФОРМ»

10.30-11.00 Входной контроль электронных компонентов на пластине и в корпусе

Часть 1. Входной контроль компонентов на пластине (Wafer):Часть 2. Входной контроль компонентов в корпусе (борьба с контрафактом)

Артемьев Дмитрий, Начальник отдела функционального контроля Службы тестового оборудования ООО «Совтест АТЕ»

11.00 — 11.30 Испытательное оборудование на входном контроле

Часть 1: Термостатирование и термоциклирование контактным и бесконтактными (в воздушной среде) способами, как наиболее эффективный метод отбраковки изделий

Климов Роман, коммерческий директор ООО «Совтест АТЕ»

Часть 2: Электротермотренировка — дополнительная проверка компонентов на этапе входного контроля

Артемьев Дмитрий, Начальник отдела функционального контроля Службы тестового оборудования ООО «Совтест АТЕ»

11.30 -12.00 Кофе-брейк

12.00 — 12.30 Климатические испытания на надежность электронных изделий: методы и оборудование

Peter Zhang, заместитель директора по продажам компании Komeg

12.30-13.00 «Сверхгауссовые ускорения при испытаниях электронных изделий – инструмент сокращения цикла вибрационных испытаний»

Gavin Zhao, вице-президент компании ECON

13.00-13.30 Тестирование изделий электронной техники на радиационную стойкость

Уланова Анастасия , к.т.н, заместитель генерального директора АО «ЭНПО СПЭЛС»

13.30 — 14.00 Имитация космического пространства в земных условиях

Аревшатян Давид, руководитель московского офиса ООО НПП «Универсал Прибор»

14.00-14.50 Обед

14.50 — 15.10 Организационная система автоматизированной инспекции качества изделий электронной техники в оптическом диапазоне

Дормидошина Дарья, технический директор АО «ЦКБ «Дейтон»

15.10 -15.30 Технологии импортозамещения в функциональном тестировании электронной техники: от перехода на отечественные PXIe/AXIe платформы, готовые решения по тестированию микросхем и созданию рабочих мест по функциональному тестированию РЭО

Зайченко Сергей, генеральный директор ГК Информтест

15.30 -15.55 Применение квазистатических измерений на Тестерах FORMULA для создания SPICE-моделей полупроводниковых приборов

Постников Александр, руководитель проектов поставки измерительных и испытательных комплексов ООО «ФОРМ»

15.55 -16.20 СВЧ корректор ГВЗ на связанных полосковых линиях

Шарабудинов Рахматилло, инженер по технической документации АО «ТЕСПРИБОР»

16.20 -16.55 Тестирование СВЧ элементов с малыми габаритными размерами (менее 3 мм)

Черников Петр, руководитель участка параметрического контроля АО «ТЕСТПРИБОР»

16.55- 17.20 Комплексное испытание и тестирование полупроводниковых изделий: объединение электрических и СВЧ-измерений в единой системе

Демидов Павел, пресейл-инженер направления «Зондовые станции», АО «Акметрон»

17.20-17.45 Оценка качества и срока службы светодиодов на производстве

Никифоров Сергей, д.т.н. руководитель ООО «Лаборатория «Сила Света»

17.45 — 18.10 От функционального тестирования к диагностике: как данные автоматизированных испытаний помогают выявлять скрытые дефекты электронных изделий

Красик Татьяна, PhD, IEEE Senior Member, независимый исследователь, эксперт в области RF/microwave-измерений и автоматизированного тестирования, автор методики поверки, применяемой в национальной метрологической системе более 10 лет

Сайт конференции: https://b2bconf.ru/testing/