Конференция состоится 10 сентября в Москве

C докладом «Измерительная достоверность беспроводных IIoT-систем: как RF-тестирование и диагностика помогают предотвращать отказы» на конференции IIoT-2026 10 сентября в Москве выступит Татьяна Красик, PhD, IEEE Senior Member, независимый исследователь, эксперт в области RF/microwave-измерений и автоматизированного тестирования.

В докладе будет рассмотрены практические проблемы, возникающие прииспытаниях беспроводных промышленных устройств и сенсорных сетей:— влияние радиоканала, помех, тестовых интерфейсов и калибровки надостоверность результатов;— выявление нестабильных и периодически возникающих дефектов;— построение автоматизированных приёмочных испытаний для IIoT-оборудования;— связь результатов производственного тестирования с последующейнадёжностью оборудования в эксплуатации;— сокращение времени диагностики без увеличения риска пропуска дефектов.

Сайт конференции: https://b2bconf.ru/iiot_2026/